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OPWILL发布155M SDH测试模块

来源:华强电子网 作者:华仔 浏览:544

标签:

摘要: OPWILL公司发布单槽位OTM2515 SDH测试模块,该测试模块适用于OTP6200平台,可实现PDH/DSN以及SDH/SONET测试功能。OTP6200+OTM2500可支持155M光接口、155M SDH电接口和1.5M/2M/34M/45M/140M PDH电接口测试,可完成SDH网络日常维护测试,如开销捕获、智能扫描、环回延迟测试、指针监测调整、通道扫描等。  除了上述常用测试功能,

OPWILL公司发布单槽位OTM2515 SDH测试模块,该测试模块适用于OTP6200平台,可实现PDH/DSN以及SDH/SONET测试功能。OTP6200+OTM2500可支持155M光接口、155M SDH电接口和1.5M/2M/34M/45M/140M PDH电接口测试,可完成SDH网络日常维护测试,如开销捕获、智能扫描、环回延迟测试、指针监测调整、通道扫描等。
  除了上述常用测试功能,该产品还支持E1多通道测试功能和基于E1接口与STM-N接口(或两个E1接口)的双向保护倒换测试功能。
  E1多通道测试功能可以使我们同时监控12路E1通道,提高我们的测试效率;
  两个E1接口的双向保护倒换测试功能可以使我们针对特殊的具有RJ48 E1接口的网络进行服务倒换测试。
  该产品的推出,进一步完善了OPWILL公司在传输SDH网络方面的测试解决方案,也为客户提供了更多的选择。

1.jpg2012-11-25 21:08:14 上传下载附件 (11.6 KB)


OPWILL推出OTDR离线双向分析功能软件


  作为传输介质,光纤以其传输容量大、低成本等优点,在现代通信系统中得到了广泛的应用。而OTDR作为一款工程类工具,在光纤工程建设、维护阶段起到了至关重要的作用。在日常光纤线路维护工作中,线路的损耗测试是必不可少的,然而,由于光纤的物理特性以及熔接点、连接点等事件,导致事件点两端的折射率、反射率、背向散射存在差异性,我们在线路单方向进行的光纤损耗测试并不能完全正确的反应光纤链路的真实情况。OPWILL公司推出具备双向分析功能的OTDR离线分析软件。我们在光纤两端对光纤链路进行测试,通过后台离线分析软件对两次的测试结果进行双向分析,这样就更加清楚的了解光纤链路的实际情况。
  如下图所示:我们可以清晰的看到A-B、B-A两个方向的事件信息、链路信息,有助于我们判断整条链路的损耗情况。

2.jpg2012-11-25 21:09:52 上传下载附件 (28.92 KB)

型号 厂商 价格
EPCOS 爱普科斯 /
STM32F103RCT6 ST ¥461.23
STM32F103C8T6 ST ¥84
STM32F103VET6 ST ¥426.57
STM32F103RET6 ST ¥780.82
STM8S003F3P6 ST ¥10.62
STM32F103VCT6 ST ¥275.84
STM32F103CBT6 ST ¥130.66
STM32F030C8T6 ST ¥18.11
N76E003AT20 NUVOTON ¥9.67