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数字lC测试仪

来源:华强电子网 作者:华仔 浏览:886

标签:

摘要: ;;; 1)外形与特点;;; 数字lC测试仪是采用单片机技术的一8N60种便携式仪器,外形如图2-18所示。其功能特点如下(以LT - 80C通用数字lC测试仪为例介绍):数字按键;;;; 图2-18数字IC测试仪外形;;;;;;;;;; ;;; (1)能够准确、迅速地测量rITL74/54、CMOS40/45系列数字集成电路的好坏,自动识别不知名的集成电路并显示其型号。;;; (2)仪器体积小、

;;; 1)外形与特点
;;; 数字lC测试仪是采用单片机技术的一8N60种便携式仪器,外形如图2-18所示。其功能特点如下(以LT - 80C通用数字lC测试仪为例介绍):数字按键
;;;; 图2-18数字IC测试仪外形;;;;;;;;;;
;;; (1)能够准确、迅速地测量rITL74/54、CMOS40/45系列数字集成电路的好坏,自动识别不知名的集成电路并显示其型号。
;;; (2)仪器体积小、重量轻、携带使用方便,外壳采用工程塑料,与一般数字万用表大小相当,3位大液晶数字显示清晰,并有蜂鸣器作为操作的提示声音。
;;; (3)由一个9V叠层电池供电,并设一个外接电源插孔,其静态电流只有十几毫安。面板上有电源开关、一个20脚测试座、四个操作按钮,外观简洁美观。
;;; (4)测量范围:TTL74/54系列(包括74 -、74S -、74LS -、74ALS -、74AC -、74ACT -、74HC -、74HCT -、74F -、74FHC -,以及与上述型号相对应的54系列产品)、CMOS40 -系列、CMOS45 -系列。
;;; 2)基本操作方法
;;; (1)接通电源,将待测IC芯片的①脚对准集成电路插座上的①脚恒定位置,再插入插座并锁紧。
;;; (2)连续按动“系列选择”键,从LCD显示屏上选出所需的系列号。
;;; (3)按动“型号测试”键,对lC进行测试。如果IC性能合格,仪器将显示其型号,并鸣笛一声;如果IC未能通过测试,仪器将鸣笛三声,此时应从插座上取下IC,检查引脚有无管路、断路及插座的接触不良等故障。如果排除上述问题后,IC芯片仍不能通过测试,则说明此IC不合格。
;;; (4)当多片同型号lC测量时,应先按“型号”测出首片型号,再按“性能测试”键,测余下的IC。IC性能合格,仪器将显示其型号;IC性能不合格肘,仪器将显示“999”,并鸣笛三声。
型号 厂商 价格
EPCOS 爱普科斯 /
STM32F103RCT6 ST ¥461.23
STM32F103C8T6 ST ¥84
STM32F103VET6 ST ¥426.57
STM32F103RET6 ST ¥780.82
STM8S003F3P6 ST ¥10.62
STM32F103VCT6 ST ¥275.84
STM32F103CBT6 ST ¥130.66
STM32F030C8T6 ST ¥18.11
N76E003AT20 NUVOTON ¥9.67