;;; 进行加速寿命试验的目的就SGM4054B-YN5/TR是用加强应力的方法，缩短试验时间或减少试验样品，加速电子元器件的失效，在较短的时间内预测出在正常的（额定的或实际使用的）应力条件下的寿命特征。加速寿命试验的分析方法主要是利用电子元器件失效数据，求出加速系数，推算不同应力水准下的减额或加速系数以及失效率数值。
;;; 加速寿命试验可分为恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验和序进应力加速寿命试验。这三种加速寿命试验方法都有一个共同点，就是要事先知道电子元器件的失效机理在什么应力范围内保持不变，否则，所获得的试验结果无效。
;;; 恒定应力加速寿命试验是样品在试验期间所承受的应力保持不变的情况下观察其失效时间，这种试验方法是最成熟的，备也不昂贵，试验条件易于控制，试验结果的误差也较小，因此，得到广泛应用。
;;; 步进应力加速寿命试验是样品在试验期间所承受的应力按一定时间间隔阶梯地增加，直到样品性能产生足够的退化为止，是以时间不变，用累积的应力方式来观察样品的失效。这种试验方法的优点是能够在较短的时间内观察到电子元器件的失效，便于确定产品承受安全应力的极限水平，便于掌握样品的失效模式和失效机理随应力的变化。当这种试验方法用于检查不同批次之间或不同厂家之间产品的质量差异时，便于检验工艺变化对产品质量的影响，其技术关键是要合理确定两组应力之间的试验时间间隔。
;;; 序进应力加速寿命试验是样品在试验期间所承受的应力按时间等速增加，直到样品产生足够的退化为止。为获得电子元器件退化程度与应力、时间的依赖关系，需要在几个不同的应力、时间变化率上重复进行几次试验，这些试验的结束条件与恒定应力加速试验或步进应力加速寿命试验相同。这种试验装置价格昂贵，故较少采用。
;;; 目前国际上采用的加速寿命试验新方法主要有高加速寿命试验( HALT)方法、高加速应力筛选( HASS)方法、高加速应力试验(HAST)方法。HALT是一种增强型分步应力寿命试验，可快速评价电子元器件可靠性寿命水平，一般用来确认设计的薄弱环节和制造过程中存在的问题，以及用来增加设计强度的裕量。HASS是一个加速环境应力筛选方法，它提供了产品遇到的最严酷的环境，它是为达到“技术的极限”而设计的，应力的微小增加就会导致失效数的大量增加。HASS带和HALT互相联合使用，目的是改进产品设计，将制造偏差和环境效应对产品性能和可靠性的影响减至最小。HAST方法是为代替老的温度／湿度试验而专为塑封固态器件而开发的一种新试验方法，在国外企业普遍使用。
;;; HAST也是NASA塑封微电路鉴定试验中常用的试验方法。