tap（测试访问端口）控制器是一个16状态的有限状态机，为jtag提供控制逻辑，控制进入jtag结构中各种寄存器内数据的扫描与操作。状态转移图如图所示，在tck同步时钟上升沿的tms引脚的逻辑电压来决定状态转移的过程。　　对于由tdi引脚输入到器件的扫描信号有2个状态变化路程：用于指令移入至指令寄存器，或用于数据移入至相应的数据寄存器（该数据寄存器由当前指令确定）。　　状态图中的每个状态都是tap控制器进行数据处理所需要的，这些处理包括给引脚施加激励信号、捕获输入数据、装载指令，以及边界扫描寄存器中数据的移入／移出。　　控制指令用于控制jtag接口的各种操作，控制指令包括公用指令和私有指令。最基本的公用指令包括：　　●bypass：旁路片上系统逻辑指令，用于未被测试的芯片，即把tdi与tpo旁路（1个时钟延迟）。　　●extest：片外电路测试指令，用于测试电路板上芯片之间的互连。如状态转移图中的引脚状态被捕获在capture-dr；并在shift-dr状态时，通过tdo引脚把寄存器中数据移出；同时新的数据通过tdi引脚输入。该数据在update-dr状态中用于边界扫描寄存器输出。
　　图 tap（测试访问端口）控制器状态转移图　　●idcode：读芯片id码指令，用于识别电路板上的芯片。此时，d寄存器在tdi与tdo引脚之间，在capture-dr状态中，芯片的idt复制到该寄存器，然后在shift-dr状态中移出。　　●intest：片内测试指令，边界扫描寄存器位于tdi与tdo引脚之间，处理器核逻 辑输入和输出状态被该寄存器捕获和控制。