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半导体外观检测方案———半导体外观检测方案

来源:<a href='http://bbs.hqew.com/viewthread.php?tid=536070' target='_blank'>caihuiliu</a> 作者:华仔 浏览:2076

标签:

摘要: 一、项目背景:外观不良,不能使用,会导致致浪费下工序的人力、材料、物力、时间等成本。之前检测方法存在问题:1、检测速度慢,无法实现在线检测;2、人工检测主观性大,人员易疲劳;3、品质管理难,人工操作中易造成其它不良内容。二、解决方案:1、双排料带,一排料带使用2个相机,正反面各一个;2、采用高亮同轴光,将要检测的部分在图像中凸显,通过视觉工具和几何工具分析,同时实现运动中检测;3、判断出的不良品通过切刀切


一、项目背景:
外观不良,不能使用,会导致致浪费下工序的人力、材料、物力、时间等成本。
 
之前检测方法存在问题:
1、检测速度慢,无法实现在线检测;
2、人工检测主观性大,人员易疲劳;
3、品质管理难,人工操作中易造成其它不良内容。

二、解决方案:
1、双排料带,一排料带使用2个相机,正反面各一个;
2、采用高亮同轴光,将要检测的部分在图像中凸显,通过视觉工具和几何工具分析,同时实现运动中检测;
3、判断出的不良品通过切刀切除。

三、设备能力和特点:
1、检测内容:外观检测
2、精度:0.002mm
3、速度:0.05秒/只
4、特点:
      1)软件自动定位系统保证检测点始终跟着产品在图像区域的移动,从而实现高重复性,高准确性测量;
      2)高速运动中能稳定检测;
      3)一台电脑控制所有的相机,可同时看所有相机实时检测画面。
型号 厂商 价格
EPCOS 爱普科斯 /
STM32F103RCT6 ST ¥461.23
STM32F103C8T6 ST ¥84
STM32F103VET6 ST ¥426.57
STM32F103RET6 ST ¥780.82
STM8S003F3P6 ST ¥10.62
STM32F103VCT6 ST ¥275.84
STM32F103CBT6 ST ¥130.66
STM32F030C8T6 ST ¥18.11
N76E003AT20 NUVOTON ¥9.67