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摘要: ;;; (1)击穿,电极之M27C256B-15F6间短路或者断路。;;; (2)性能不良。;;; (3)稳定性差。;;;;集成电路;;; 集成电路常用的检测方法有非在路测量法、在路测量法和代换法。;; ;非在路测量法;;; 非在路测量发是在集成电路未焊入电路(或于外围电路完全脱开)时对其进行测量的方法。通过用指针式万用表测量集成电路各引脚与接地引脚之间的正、反向电阻值,或者用数字式万用表测量集成
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型号 | 厂商 | 价格 |
---|---|---|
EPCOS | 爱普科斯 | / |
STM32F103RCT6 | ST | ¥461.23 |
STM32F103C8T6 | ST | ¥84 |
STM32F103VET6 | ST | ¥426.57 |
STM32F103RET6 | ST | ¥780.82 |
STM8S003F3P6 | ST | ¥10.62 |
STM32F103VCT6 | ST | ¥275.84 |
STM32F103CBT6 | ST | ¥130.66 |
STM32F030C8T6 | ST | ¥18.11 |
N76E003AT20 | NUVOTON | ¥9.67 |