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富士公布新型带相位差检测单元传感器专利
来源：华强电子网
作者：华仔
浏览：371
时间：2016-08-10 14:18
标签：
摘要： "
富士近期公布了一款全新的相位差检测单元传感器专利，实际上类似的技术富士已经用在了旗下小尺寸DC F300 EXR上，不过富士仍然在改进自己的结构以满足未来的需求。
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富士近期公布了一款全新的相位差检测单元传感器专利，实际上类似的技术富士已经用在了旗下小尺寸DC F300 EXR上，不过富士仍然在改进自己的结构以满足未来的需求。
富士新型带相位差检测单元传感器专利
富士新型带相位差检测单元传感器专利
在新专利当中，通过增加一些菱形单元以实现模拟相位差检测结构，相位差部分的光量比过去高了1倍，可以实现更好的对焦速度，当然了这个东西我们在短时间内还看不到，一切的一切肯定会放在下一代产品上，希望他能实现对焦速度的快速提升吧!
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| STM8S003F3P6 | ST | ￥10.62 |
| STM32F103VCT6 | ST | ￥275.84 |
| STM32F103CBT6 | ST | ￥130.66 |
| STM32F030C8T6 | ST | ￥18.11 |
| N76E003AT20 | NUVOTON | ￥9.67 |