美国国家半导体公司(National Semiconductor) 日前推出1.5 Gbps 的 2x2 低电压差分信号传输 (LVDS) 模拟交点开关。这款型号为 SCAN90CP02 的交点开关不但设有可编程的预增强功能，而且还具备符合 IEEE 1149.6 标准的测试能力。

美国国家半导体的 SCAN90CP02 芯片是一款双输入、双输出的 LVDS 非阻塞交点开关，操作速度高达 1.5 Gbps ，适用于多种不同的配置，其中包括传统的交点开关、缓冲器/中继器、1:2 分裂器及 2:1 多路转换器。目前有很多网络及通信结构设备都将交点开关作为分裂器或多路转换器使用，以便为数据及时钟信号提供冗余。
  
IEEE 1149.6 是最近通过采纳的一个技术标准，让业界可以测试先前无法测试的交流电耦合互连线路。由于许多高速的 LVDS 互连线路都采用交流电耦合 (即电容耦合) 的设计，以便消除驱动器与远程接收器之间的信号偏移，因此确保新技术能够支持 1149.6 标准便显得非常重要。

SCAN90CP02 芯片可以支持的测试范围包括 IEEE 1149.1 (JTAG)、IEEE 1149.6 以及由 IEEE 1149.1 启动的错误插入补充功能 (以便核实系统是否出现故障以及是否采用冗余模式)。这些功能有助缩短测试时间，以及减低测试与开发方面的成本。