据The Semiconductor Reporter网站报道，半导体测试设备供应商Advantest公司日前推出两款存储器芯片测试设备，其一专门针对于测试NAND型闪存，另一款则具有通用性能，可用于测试包括多芯片产品在内的多种存储器芯片。

T5761T5761ES型NAND闪存测试系统，允许并行测试512位以上的器件，而现有系统仅可以测试256位。TPS(Tester Per Site)架构使功效最大化，测试速度达66-MHz。并且这套系统具有专门为NAND器件开发的错误修正功能，从而可以提高良率。另外，实时的计数功能可以记录下不合格的字节数，升级后的NAND闪存区块管理功能可以跳过不需要测试的区块，从而减少了测试时间。除了上述新增功能外，T5761T5761ES的价格上却与上代系统相仿甚至更低。预计在今年12月份可以发货。

T5383型存储器测试仪可以为DRAM、SDRAM、DDR、闪存存储器及其他通用存储器芯片，包括多芯片封装及其他特殊封装存储器。体积上比上一代T5377S型测试仪小的多，但是性能却大大提高，可以并行测试384位器件，测试速度提高了一倍达到286MHz。T5383在at-speed测试与known-good-die (KGD)测试方面，也可以达到很高的速度。

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