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;;; (1)击穿,电极之M27C256B-15F6间短路或者断路。;;; (2)性能不良。;;; (3)稳定性差。;;;;集成电路;;; 集成电路常用的检测方法有非在路测量法、在路测量法和代换法。
关键词:
967 08-10
;;; 除了在接触系统和磁路系M27C256B-70XF1统采用了前面介绍的可靠性设计方法之外,还综合采用了如下方面的设计方法:;;; ①采用聚酰亚胺组合线圈架,不但具有耐高温、耐核辐射性能,并且还具有较高的化学稳定性
关键词:
372 08-10
;;; 非固体电解质钽电容器的失效模式有两种,一种是发M27C1001-12F6热失效模式,另一种是过电压失效模式。
关键词:
392 08-10